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正入射

光线的入射角度不同导致光的成效不同

正入射(normol incidence)又称法向入射,是入射波波阵面法线垂直于媒质分界面时的情况。

是入射波波阵面法线垂直于媒质分界面时的情况。在讨论柔性墙的传声损失时,常有正入射、场入射和无规入射之分。正入射时入射角为0°,传声损失最大,因此用正入射传声损失来估计墙实际的传声损失时可能偏高 [1]

英文:vertical incidence sound absorption coefficient

平面波的入射方向与材料的轴线方向平行测得的或计算的吸声系数 [2]

吸声系数:一个表面所吸收的声能量与入射到该表面的声能量之比。是表示材料吸声特性的主要参数。对绝大多数的吸声材料,吸声系数均与声入射方向及测量方法有关,故相应于不同的入射条件 (垂直入射、斜入射和无规入射) 有三种吸声系数。其测量方法一般有驻波管法和混响室法两种 [1]

掠入射:光从光疏介质向光密介质传播,入射角接近于90度时为掠射。注意:一定要从光疏介质(折射率小)向光密介质(折射率大),入射角一定要极其接近与90°(事实上略小于90°,但在计算时完全可以按90°算)。在掠射或垂直入射2种情况下,当光从光疏介质射向光密介质时,反射过程中会产生半波损失。

正入射:又称法向入射,是入射波波阵面法线垂直于媒质分界面时的情况。在讨论柔性墙的传声损失时,常有正入射、场入射和无归入射之分。正入射时入射角为0°。

正入射显微镜:目前国际上采用正入射显微镜进行等离子体诊断研究的还不多,这主要是正入射显微镜的工作波长大于4.4nm,不适合作能量较高的等离子体诊断工具。但从已取得的结果看,正入射显微镜具有分辨率高、集光面积大、视场大、准单色成像等优点,可以获得其它方法难以得到的结果。只要很好地利用现有的条件,加强ICF(惯性约束核聚变)研究和X射线光学(包括显微镜)研究两方面人员的联系,共同寻找可以利用正入射显微镜的领域,相信会使X射线正入射显微镜用在我国的ICF研究上,并取得良好的研究成果。

关键技术:在X射线正入射显微镜研制过程中必须解决的关键问题有超光滑表面加工及测试,带宽匹配良好的高反射率多层膜制备,光学元件无应力装配,显微镜调整和滤光片制备。

用X射线正入射显微镜可以高分辨率观察较大范围内激光等离子体的准单色辐射像,并可由观测到的结果得到光源光谱辐亮度及观察波段总辐射能,这表明X射线正入射显微镜是研究激光等离子体一种强有力的诊断工具。用正入射显微镜和具有时间分辨本领的分幅相机可以观察准单色光高分辨图像的激光等离子体时间演化过程,这对于探讨等离子体产生、演变机理具有重要的意义 [3]


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